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儀器分析
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110年 - 110 調查特種考試_三等_化學鑑識組：儀器分析#103226
> 申論題
題組內容
三、關於層析分離
(一)以圖示說明 Van Deemter plot（分離板高對流速作圖），填充粒子半徑 如何影響作圖曲線？（8 分）
相關申論題
(一)列出有效半高寬峰值（）與狹縫寬度（w）及光柵線性解析度 （D, linear dispersion）的關係，解釋狹縫寬度對偵測靈敏度及解析 度的影響。（8 分）
#435871
(二)解釋干涉型傅利葉轉換的解析度與產生干涉光徑差之關聯，干涉型紅 外線傅利葉轉換光譜儀之光徑差如何調控？（8 分）
#435872
(三) UV 及 IR 吸收光譜儀分別較適合何種光譜儀（掃描式或傅利葉轉換 型）？解釋原因。（9 分）
#435873
(一)比較原子與分子光譜圖的主要差異並解釋原因。（4 分）
#435874
(二)請敘述原子吸收光譜與分子吸收光譜所用的激發光源之差異及其理 由。 （8 分）
#435875
(三)解釋 Zeeman effect 用於校正原子光譜背景干擾之基本原理。（8 分）
#435876
(四)原子 UV 與 X-ray 吸收光譜之激發電子能階有何不同？說明何者可區 分元素鍵結（氧化）態？（8 分）
#435877
(二)超高壓層析管柱使用 1.7μm 填充粒子與 3μm 填充粒子相同長度的管 柱，比較兩支管柱可達成之最佳分離板高與相同流速下管柱背壓。 （8 分）
#435879
(三)說 明 離 子 對 層 析 （ ion pair chromatography） 與 離 子 交 換 層 析 （ion exchange chromatography）所使用之管柱、工作原理及適用之分析 物。（8 分）
#435880
(一)以氬（原子量：40）離子電漿質譜儀（ICP-MS）偵測鐵（原子量：56） ， 舉一種可能造成 isobaric interference 的離子，及說明如何降低或區別 此干擾的方法。（7 分）
#435881
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