試題詳解

試卷：114年 - 114-2 AI 應用規劃師-中級能力鑑定公告試題_第三科：機器學習技術與應用#136329 | 科目：iPAS◆AI應用規劃師◆中級

試卷名稱：114年 - 114-2 AI 應用規劃師-中級能力鑑定公告試題_第三科：機器學習技術與應用#136329

年份：114年

科目：iPAS◆AI應用規劃師◆中級

13. 標籤偏差(Label Bias)通常是因為什麼原因造成？
(A)訓練資料量過大；
(B)標記資料本身帶有主觀偏見；
(C)模型結構設計不當；
(D)特徵數量設定過多

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