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試題詳解

試卷:115年 - 115 新制多益閱讀測驗第六回#137016 | 科目:新制多益閱讀(TOEIC Reading)

試卷資訊

試卷名稱:115年 - 115 新制多益閱讀測驗第六回#137016

年份:115年

科目:新制多益閱讀(TOEIC Reading)

118. The technician discovered that the malfunction was caused by a ______ component in the circuit board.
(A) defective
(B) defect
(C) defectively
(D) defects

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詳解 (共 1 筆)

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未解鎖
a ______ component  ...
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